国内刊号:11-2436/TN
国际刊号:1001-5078
发布日期:
作者:周蕾,游聪娅,李海燕,胡雨农,任秀娟,崔戈
单位:中国电子科技集团公司第十一研究所,北京 100015;
关键词:红外探测器;II类超晶格;背增膜系设计
在红外探测器芯片背面沉积光学增透膜可显著降低界面反射损耗,增强入射光的吸收,从而有效提升器件的探测性能。本研究采用仿真计算设计了一种适用于GaSb基InAs/GaSb II类超晶格探测器的双层背增透膜结构,并在GaSb衬底、中/长双色和长波单色超晶格探测器芯片上完成了双层膜制备。通过对背增前后的芯片进行性能测试,证实该双层膜具备提升超晶格探测器响应性能的作用,同时通过温冲测试表明该膜系具有较好的可靠性。
来源:2026年第5期
《激光与红外》期刊编辑部