国内刊号:11-2436/TN
国际刊号:1001-5078
发布日期:
作者:张宇轩
单位:1.中国科学院理化技术研究所 固体激光重点实验室,北京 100190;2.中国科学院大学,北京 100049;3.齐鲁中科光物理与工程技术研究院,山东 济南 250000;
关键词:漫反射;近场光斑;轮廓提取;光强分布
在高功率激光中,对于近场光斑的特征监测是保障系统安全运行的关键技术环节。为避免局部功率密度过高导致的光学元件损伤,本研究基于CCD(Charge coupled Device)漫反射成像原理,研制了一套激光近场光斑特征实时测量与分析系统。该系统采用QT和OpenCV进行软件编程,解决了传统CCD成像法不能实时处理与分析光斑参数的缺点,可实现光斑轮廓自动提取、三维强度分布可视化、二维散点分布分析等核心功能,具有高分辨率,易于使用的优点。实验验证表明,该测量系统成功解决了高功率激光中近场光斑动态监测的技术难题,为高功率激光的安全运行提供了有效的技术保障。
来源:2026年第4期
《激光与红外》期刊编辑部