激光与红外

作者：田恒杰，朱辰，吕坤鹏

单位：中电科光电科技有限公司，北京 100015；

关键词：光电探测器阵列靶斑仪;光学衰减设计;信号采集处理电路设计;数据处理

本文综述了光电探测阵列靶激光参数测试技术的发展趋势和未来展望。首先介绍了激光到靶参数测试的发展历程，其次介绍了光电探测器阵列法的技术组成，随后详细介绍了光学衰减设计、信号采集处理电路设计和数据处理等关键技术，最后分析了光电探测器阵列靶斑仪面临的挑战和未来展望。研究表明，光电探测器阵列靶斑仪在到靶激光参数测试中占据十分重要的地位，在未来向着更精准可靠、更便捷迅速的方向发展。

来源：2026年第3期

《激光与红外》期刊编辑部

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