激光与红外

作者：丁健华

单位：1.山东大学 集成电路学院,山东 济南 250000；2.华北光电技术研究所,北京 100015；

关键词：红外读出电路;低噪声;相关双采样技术;CTIA

读出电路作为红外探测器组件的关键组成部分,其噪声特性对信号读出以及整个成像系统的性能影响重大。噪声在信号传递的过程中是不可避免的,但可以通过降噪技术以及合理的设计来优化噪声性能。本文从分析红外探测器读出电路噪声入手,基于CTIA输入级仿真对比了两种相关双采样技术:像素级相关双采样和列级相关双采样。旨在根据不同的红外探测器的需求特点,选择更适合的相关双采样技术,以降低读出电路的开关复位噪声、MOS管噪声、FPN噪声,同时兼顾动态范围、线性度和功耗等要求。

来源：2025年第4期

《激光与红外》期刊编辑部

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