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国内刊号：11-2436/TN
国际刊号：1001-5078
发布日期:
作者：甘玉梅
单位：中国电子科技集团公司第十一研究所,北京 100015；
关键词：冷屏;辐射;红外焦平面探测器;杂散光
分析了国内早期中波320×256红外焦平面探测器组件与国外同类产品在装机性能上的差异,采用三种实验方法检测了国内外探测器组件的光电性能,通过对探测器组件光电转换和结构的分析,确定出杂散光在冷屏内部的反射是导致测试结果差异的原因,冷屏内表面黑化层和结构形式是影响组件实际应用的关键。冷屏结构改进后,有效改善了国内探测器组件的实际应用性能。
来源：2024年第6期
《激光与红外》期刊编辑部
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