国内刊号:11-2436/TN
国际刊号:1001-5078
发布日期:
作者:张来线
单位:1.中国人民解放军战略支援部队航天工程大学电子与光学工程系,北京 101416;2.中国人民解放军战略支援部队航天工程大学研究生院,北京 101416;
关键词:逆向调制;线性阵列;光场分布;光强分布;离焦量;入射角
为了分析逆向调制器的反射光场和反射光强的变化规律,利用532nm激光照射逆向调制器阵列,测试得到了离焦量、入射角变化时的逆向调制器的反射光场和反射光强,得到了阵列调制器反射光强与单个逆向调制器反射光强关系。测试结果表明,一定范围的正离焦使反射光束发散角变小,反射光能量聚焦度好,负离焦相反。入射角使反射光场发生畸变,反射光强与入射角成反比。离焦量为0或负离焦时,阵列调制器的反射光强是单个调制器反射光强的线性叠加。
来源:2021年第6期
《激光与红外》期刊编辑部