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国内刊号：11-2436/TN
国际刊号：1001-5078
发布日期:
作者：林国画
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
关键词：碲镉汞集成偏振探测器;应力;铟柱;减薄
红外碲镉汞集成偏振探测器的结构是采用多个芯片叠层的方式,由于各层的材料不同,热膨胀系数不同,在低温下工作时各层界面之间存在应力,应力控制的不好会造成芯片裂片等情况,导致探测器性能劣化或无法使用。本文对长波320×256碲镉汞集成偏振探测器的裂片现象进行了分析,对存在的应力运用软件进行了仿真,得到了碲镉汞芯片上的应力值及减小应力的方向。针对仿真分析的结果进行了相应的铟柱降低、碲锌镉衬底减薄的试验,解决了碲镉汞集成偏振探测器的裂片现象。
来源：2020年第9期
《激光与红外》期刊编辑部
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