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国内刊号：11-2436/TN
国际刊号：1001-5078
发布日期:
作者：李敬国
单位：华北光电技术研究所,北京 100015；
关键词：HgCdTe;红外探测器;抗辐照
红外探测器处于太空或辐射环境会受到各种辐射粒子作用,其性能会发生衰减。本文主要分析了各种辐射效应对HgCdTe红外探测器性能影响机理。针对红外探测器复合钝化加固方法,ROIC环源环栅加固方法进行试验验证。辐照试验显示,加固后的红外探测器互联抗辐照读出电路,其抗总剂量、抗剂量率及抗中子辐射位移达到了比较好抗辐照效果。
来源：2019年第9期
《激光与红外》期刊编辑部
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