激光与红外

作者：刘贺雄

单位：陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系,河北 石家庄 050003；

关键词：温度;雪崩光电二极管;恒虚警概率;倍增因子;探测能力

基金：河北省自然科学基金项目(No.F2016506014)资助

雪崩光电二极管倍增因子、噪声都会受到温度影响,在恒虚警下APD倍增因子、噪声之间会相互作用,为了研究温度变化对APD性能造成的影响并对其进行评估,分析了温度对暗电流、热噪声、倍增因子的影响及恒虚警补偿方式工作原理。建立了恒虚警下温度与倍增因子的关系模型,对模型进行了实验验证,利用模型对不同背景光、不同虚警概率下温度对倍增因子的影响进行了分析,提出了温度对恒虚警下APD性能影响的评估方法。结果表明:恒虚警下,倍增因子随温度的升高而降低；同一温度下,背景光越强或倍增因子越小时,虚警概率低,倍增因子较小；且背景光越弱、虚警概率越低时,温度对倍增因子的影响越明显。

来源：2019年第4期

《激光与红外》期刊编辑部

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