国内刊号:11-2436/TN
国际刊号:1001-5078
发布日期:
作者:尚林涛
单位:华北光电技术研究所,北京 100015;
关键词:InSb;InAlSb;高温工作;MBE;暗电流
接近室温的更高工作温度是第三代红外探测器发展的重要方向。本文论述了用MBE在InSb(100)衬底上外延生长制备P-i-N型三元In1-xAlxSb薄膜合金材料,并通过制备单元器件进行了验证。采用RHEED振荡和X射线双晶衍射对In1-xAlxSb薄膜的Al组分进行了调控和检测。5.3 μm厚薄膜的FWHM≈50 arcsec,Al组分约1.9%。10 μm×10 μm原子力表面粗糙度RMS≈0.6 nm。制备的单元器件获得了预期的理想效果,为下一步面阵焦平面的制备奠定了基础。
来源:2019年第3期
《激光与红外》期刊编辑部