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国内刊号：11-2436/TN
国际刊号：1001-5078
发布日期:
作者：李春领
单位：华北光电技术研究,北京 100015；
关键词：碲镉汞薄膜;损伤层厚度;白光干涉仪;表面粗糙度
HgCdTe薄膜表面损伤层厚度测试对其加工工艺及其重要。本文采用白光干涉仪对HgCdTe薄膜表面粗糙度测试,并与损伤层厚度对比,研究发现粗糙度值达到稳定值后,上一步工艺引入的表面损伤已经完全去除,表面的损伤为抛光工艺引入的损伤。这一方法,既能方便快捷地确定损伤层是否完全去除,又未对测试样品产生破坏。
来源：2019年第1期
《激光与红外》期刊编辑部
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